Poudre de paillasse X

Overview

Informations de base.

Numéro de modèle.	DW-XRD-Y3000
Personnalisé	Non personnalisé
Forfait Transport	Forfait standard
Marque déposée	Dessinateur
Origine	Chine
Capacité de production	200 pièces par an

Description du produit

Instrument de diffraction des rayons X modèle DW-XRD-Y3000

Description du produit

Le diffractomètre de la série Y3000 est conçu pour la recherche sur les matériaux et l'analyse des produits industriels. C'est la combinaison parfaite de

analyse conventionnelle avec des produits de mesure spéciaux.
•La combinaison parfaite de systèmes matériels et logiciels répond aux besoins des universitaires et des chercheurs dans différents domaines d'application.

Le système de mesure de l'angle de diffraction de haute précision permet d'obtenir des résultats plus précis
La haute stabilité du système de contrôle du générateur de rayons X permet d'obtenir une précision de répétabilité plus stable
Fonctionnement programmable, conception de structure intégrée, opération facile, perspectives élégantes.

La diffraction des rayons X (DRX) est un instrument de test polyvalent permettant de révéler la structure cristalline et les informations chimiques :

Échantillons inconnus dans diverses identifications de phases
Échantillons mixtes avec analyse de phase quantitative connue
Analyse de la structure cristalline
La structure cristalline change dans des conditions non conventionnelles (haute température, basse température)

• Analyse sur film de surface du matériau
• Analyse de la texture et des contraintes des matériaux métalliques
Paramètre technique


Puissance nominale	3 kW
Tension des tubes	10-60kV
Courant de tube	5-80 mA
Tube à rayons X	tube de verre, tube en céramique, tube en céramique ondulé : Cu, Fe, Co, Cr, Mo, etc., puissance 2 kW
Taille de mise au point	1 x 10 mm ou 0,4 x 14 mm ou 2 x 12 mm
La stabilité	≤0,01%
Structure du goniomètre	Horizontale ( θ-2 θ)
Rayon de diffraction	185mm
Portée de numérisation	0-164
Vitesse de numérisation	0,0012° - 70° mini
Max. vitesse de rotation	100°/min
Mode de numérisation	liaison θ-2θ, θ,2θ simple action ; numérisation continue ou pas à pas
Précision d'angle reproductible	1/1000°
Angle de marche minimal	1/1000°
Détecteur	compteurs proportionnels(PC) ou compteurs à scintillation(SC)
Taux de linéarité du comptage	5 x 105CPS (avec la fonction de compensation du comptage des abandons)
Rapport de résolution énergétique	≤25 % (PC),≤50 % (SC)
Compter la mode	coefficient différentiel ou intégral, PHA automatiquement, régulation du temps mort

$Benchtop Powder X-ray Diffraction Xrd Instrument Lab Instrument Xrd Analyzer Spectrometer$

Des produits

Informations de base.

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